大規(guī)模集成電路精選(九篇)

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第1篇：大規(guī)模集成電路范文

關(guān)鍵詞：功能特性；固定0-1故障；橋接故障；標(biāo)準(zhǔn)輸入矩陣

中圖分類號(hào)：TP3 文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼：A 文章編號(hào)：1009-3044（2013）12-2866-05

超大規(guī)模集成電路的高速發(fā)展導(dǎo)致了單個(gè)芯片的組成元素個(gè)數(shù)的指數(shù)增長(zhǎng)。然而，由于每個(gè)芯片的基本輸入輸出是有限的，這導(dǎo)致了測(cè)試芯片工作更加困難。此外，集成電路制造商們因?yàn)橹R(shí)產(chǎn)權(quán)的問(wèn)題不樂(lè)意公開(kāi)電路板內(nèi)部實(shí)現(xiàn)的詳細(xì)細(xì)節(jié)。另外，為了確保一個(gè)系統(tǒng)操作的可靠性，用戶需要在在芯片提供給系統(tǒng)前對(duì)其進(jìn)行測(cè)試。盡管如此，用戶通?？梢詮募呻娐分圃焐痰臄?shù)據(jù)書(shū)中找到一些該芯片的功能屬性和芯片的部分體系結(jié)構(gòu)。因此，兩個(gè)問(wèn)題出來(lái)了：1）只是基于一個(gè)芯片的功能特性而不知道其內(nèi)部的實(shí)現(xiàn)細(xì)節(jié)，對(duì)其進(jìn)行測(cè)試可能嗎？2）進(jìn)一步，用和上一步同樣的信息，不僅測(cè)試這個(gè)芯片的固定故障而且測(cè)試其橋接故障可能嗎？事實(shí)是，對(duì)這兩個(gè)問(wèn)題的回答都是積極的。

在這篇文章中，我們根據(jù)芯片的功能特性提出了一些系統(tǒng)的測(cè)試方法。不管怎樣，基于對(duì)被測(cè)電路板的有限信息，我們的測(cè)試也會(huì)受限。因此，我們?cè)诖酥豢紤]電路板的基本輸入輸出上的故障。換句話說(shuō)，我們將要測(cè)試的故障僅限于下邊幾種：

1） 基本輸入輸出上的固定故障；

2） 輸入線間的非反饋橋接故障；

3） 輸出線間的非反饋橋接故障；

4） 輸入和輸出間的反饋橋接故障。

盡管我們的測(cè)試僅僅是根據(jù)電路板的外部特性提供的有限信息，我們得到了很好的效果，可以很方便的檢測(cè)電路板的功能特性。對(duì)于大多數(shù)的用戶來(lái)說(shuō)，這個(gè)方案可以直接實(shí)現(xiàn)而不用復(fù)雜設(shè)備，軟件和其他復(fù)雜工作。

1 基本定理

下邊的定理，已經(jīng)在前幾篇論文中提出并證明，在這里再次列出但不予證明。方便起見(jiàn)，不失一般性，在這片文章中，我們提到橋接故障時(shí)就是這與-橋接故障模型。此外，我們把橋接故障劃分為反饋型橋接故障和非反饋型橋接故障。

定理1：讓我們來(lái)考慮一個(gè)電路板，其實(shí)現(xiàn)的F（n，m）這個(gè)功能函數(shù)，該功能函數(shù)有n個(gè)輸入x1，...xn和m個(gè)輸出F1，...Fm，我們?cè)诖颂岢鲆粋€(gè)輸入矩陣T，其格式如下：

我們稱T為輸入矩陣T。

T可以檢測(cè)出輸入線x1，...，xm中的任何一個(gè)固定故障，當(dāng)且僅當(dāng)（a）T既不包含全0列也不包含全1列。（b）對(duì)每一個(gè)i（1≦i≤n），這里總存在一個(gè)j（1≤j≤N）和一個(gè)k（1≤k≤m）使得Fk（t1j，...ti-1j，0，ti+1j，...，tnj）≠Fk（t1j，...ti-1j，1，ti+1j，...tnj）.

定理2：定理1中提到的輸入矩陣T檢測(cè)所有的輸出線上的固定故障當(dāng)且僅當(dāng)對(duì)應(yīng)定理1中的輸入矩陣，輸出矩陣。

既不包含全0列也不包含全1列。

定理3：功能函數(shù)F（n，m），有n個(gè)輸入x1，...xm，m個(gè)輸出F1，...Fm，在這個(gè)電路板中非反饋橋接故障可以被檢測(cè)當(dāng)且僅當(dāng)至少存在一個(gè)輸入結(jié)合（a1，...as，xs+1，...，xn），（a1，...as）不是全0也不是全1，且有一個(gè)k（1≦k≦m）滿足

Fk（a1，...as，xs+1，...，xn）≠Fk（0，...，0， xs+1，...，xn）

定義1：X=（x1，...，xn），xi={0，1}。對(duì)于有n個(gè)變量的布爾功能函數(shù)F來(lái)說(shuō)，當(dāng)X中含有的1的個(gè)數(shù)最少且使F=1時(shí)，X成為F的最輕最小項(xiàng)。

定理4：實(shí)現(xiàn)布爾功能函數(shù)F的輸入輸出間的任何反饋橋接故障都可被檢測(cè)出來(lái)通過(guò)一個(gè)一步測(cè)試方案0或者一個(gè)兩步測(cè)試（0，LM），這里L(fēng)M是F的一個(gè)最輕最小項(xiàng)。

因?yàn)閷?duì)于所有的反饋橋接故障來(lái)說(shuō)，只有上邊所提的一步或兩步測(cè)試被需要。不管怎樣，在兩步測(cè)試中，LM必須提供給電路板，測(cè)試將第二步尾隨第一步進(jìn)行。

2 測(cè)試固定故障和橋接故障的案例應(yīng)遵循的規(guī)則

基于上面所描述的理論，我們發(fā)現(xiàn)一些測(cè)試一個(gè)電路板的外部輸入輸出的固定故障和橋接故障應(yīng)遵循的規(guī)則。

讓我們考慮一個(gè)實(shí)現(xiàn)功能函數(shù)F（n，m）的電路板。T和F（T）是我們以上提到的輸入輸出矩陣。然后，我們可以發(fā)現(xiàn)如果T檢測(cè)錯(cuò)誤，那么輸入矩陣T和輸入矩陣F（T）必須滿足如下規(guī)則：

規(guī)則1：為了檢測(cè)固定故障，T和F（T）都既不包含全0列也不包含全1列。因?yàn)?，如果不這樣，一個(gè)固定型故障不能與非固定性故障但是有全0或全1列的區(qū)分開(kāi)來(lái)。

規(guī)則2：為了檢測(cè)輸入線上的固定故障，對(duì)于每一個(gè)輸入線Xi，必須存在一個(gè)j和一個(gè)k，使得Fk（t1j，...ti-1j，0，ti+1j，...，tnj）≠Fk（t1j，...ti-1j，1，ti+1j，...，tnj）。

規(guī)則3：為了檢測(cè)輸入和輸出線上的非反饋橋接故障，T和F（T）都不能含有兩列相同列，這樣任意的非反饋橋接故障都可以被檢測(cè)到。因?yàn)檫@個(gè)原因，這里必須

規(guī)則4：為了檢測(cè)一個(gè)電路板的輸入輸出間的反饋橋接故障，輸入矩陣中必須包括上邊所提到的一步和兩步陣列。

基于上述的規(guī)則，固定故障和橋接故障的測(cè)試矩陣可以很容易的產(chǎn)生且不用去了解被測(cè)芯片的內(nèi)部詳細(xì)實(shí)現(xiàn)。

作為一個(gè)例子，我們來(lái)考慮一個(gè)8-bit RAM，其有8個(gè)輸入（x1，x2...x8），4個(gè)地址線（a1，a2，a3，a4）和一個(gè)讀寫(xiě)控制線C.當(dāng)C=0時(shí)是寫(xiě)模式，當(dāng)C=1時(shí)是讀模式。此RAM的8個(gè)輸入線可以被描述為：

失一般性，我們假定所有的存儲(chǔ)單元在測(cè)試前置0，這樣下邊的輸入輸出矩陣可以用來(lái)檢測(cè)所有以上提到的故障。我們首先按順序依次寫(xiě)5個(gè)8-bit數(shù)據(jù)，然后是讀操作把數(shù)據(jù)倒序讀出來(lái)。

可以看出我們上邊提到的固定故障和橋接故障用這對(duì)輸入輸出矩陣都可以被檢測(cè)出來(lái)。為了進(jìn)一步的闡述輸入輸出矩陣的用途，我們簡(jiǎn)單的看幾個(gè)例子：

1） 檢測(cè)輸入線上的固定故障：一個(gè)控制線C上的固定故障，任何一個(gè)地址線ai或任何一個(gè)數(shù)據(jù)輸入線xj上的固定故障都可以用T和F（T）檢測(cè)到。例如，在a1上有一個(gè)固定0故障，這樣第五行的輸入變成（0011111110000），使得地址單元（0111）重新寫(xiě)入（11110000），而地址單元（1111）并沒(méi)有數(shù)據(jù)寫(xiě)入。因此，在輸出矩陣中，輸出的第六行變成（00000000）而且輸出的第七行變成（11110000）.因此，a1上的固定0故障可以被檢測(cè)到。

2） 檢測(cè)輸出線上的固定故障：對(duì)于人一個(gè)輸出線zi上的固定故障可以簡(jiǎn)單的被輸出矩陣檢測(cè)到。任何輸出線上的固定故障將會(huì)形成輸出矩陣上的全0或全1列。

3） 檢測(cè)輸入線上的非反饋橋接故障：地址線間的任何非反饋橋接故障可以檢測(cè)到通過(guò)觀察到兩行相同的輸出。例如，兩個(gè)地址線a1和a3連接到了一起，那么數(shù)據(jù)輸入矩陣的第三行（01010101）將被重新寫(xiě)到地址單元（0001）。結(jié)果是，輸出矩陣的第8和第9行有相同的值（01010101）。用類似的方法，一旦地址線和輸入線間有連接在一起的，這樣在輸出矩陣中將有多余一行的數(shù)據(jù)會(huì)被改變，因此這個(gè)故障可以輕易的檢測(cè)到。

4） 檢測(cè)基本處出現(xiàn)上的非反饋橋接故障：這個(gè)故障可以被直接檢測(cè)到僅僅通過(guò)檢查在輸出矩陣?yán)锸欠裼兄辽賰蓚€(gè)形同的列即可。因?yàn)槿魏屋敵鼍€上的非反饋橋接故障都會(huì)導(dǎo)致在輸出矩陣中至少有一對(duì)相同的列。

3 固定故障和橋接故障的確定

通過(guò)上述討論的規(guī)則，我們現(xiàn)在發(fā)明一個(gè)系統(tǒng)的方法可以確定一個(gè)電路板的固定故障和橋接故障的位置，而不用知道電路板的詳細(xì)實(shí)現(xiàn)。

方便起見(jiàn)，我們來(lái)考慮一個(gè)4位快速全加法器。這個(gè)加法器有9個(gè)輸入線：包括4個(gè)數(shù)據(jù)輸入線（A1，A2，A3，A4），（B1，B2，B3，B4）和一個(gè)低位向高位的進(jìn)位C0，五個(gè)輸出線：4個(gè)輸出線（∑1，∑2，∑3，∑4）和一個(gè)向高位的進(jìn)位線C5.然后讓我們來(lái)考慮如下的輸入-輸出矩陣。用來(lái)檢測(cè)和確定可能的固定故障和橋接故障。

從上面可以看出，4位全加器實(shí)現(xiàn)的布爾功能函數(shù)F（9，5），它有9個(gè)輸入5個(gè)輸出。為了測(cè)試和定位故障，矩陣可以稱為標(biāo)準(zhǔn)輸入矩陣（standard input matrix ， SIM）， 它生成的矩陣稱為符合輸出矩陣（corresponding output matrix， COM）。在COM中的每一行都是根據(jù)運(yùn)算法則對(duì)輸入產(chǎn)生的。現(xiàn)在我們考慮為什么這個(gè)選擇好的SIM和COM可以用來(lái)測(cè)試和定位所有可能的固定型故障和橋接故障。

1） 如果在輸入線上有任何固定型故障，那么至少會(huì)有兩個(gè)相等的形式出現(xiàn)在SIM中。因此，也會(huì)有兩個(gè)相等的形式出現(xiàn)在COM。

2） 如果在輸出線上有任何固定型故障，那么在COM中會(huì)有全0或全1的列出現(xiàn)。

3） 如果在任何兩個(gè)輸入線之間有NFBF故障，那么至少有兩個(gè)相等的形式出現(xiàn)在SIM中，因些也會(huì)有兩個(gè)相等的形式出現(xiàn)在COM中。

4） 如果在任何兩個(gè)輸出線上有NFBF故障，那么至少有兩個(gè)相等的列現(xiàn)在COM中。

5） 如果在任何輸入線和輸出線之間有FBF故障，然后根據(jù)一步或兩步測(cè)試序列，至少錯(cuò)誤列上會(huì)有一個(gè)0。

從上面的例子，可以和很容易看到，不僅固定型故障和橋故障可以被測(cè)試出來(lái)，而且它們的位置也可以根據(jù)他們?cè)谳敵鼍仃囍械腻e(cuò)誤形式找出來(lái)。根據(jù)上面的討論，可以得到下面的結(jié)果。在一個(gè)電路的合適SIM中，可以找出在主輸入和輸出上的各種錯(cuò)誤，只要它的相應(yīng)COM符合下面的條件：

1） 在輸出矩陣中不多于兩個(gè)相等且相鄰的行。

2） 在輸出矩陣中不多于兩個(gè)相等的列。

3） 在輸出矩陣中沒(méi)有任何的0（1）列。

進(jìn)一步，如果輸入形式SIM也滿足在III中的規(guī)則4，那么它也可以測(cè)試在輸入線和輸出線上的FBF故障。

為了定位故障，我們重新考慮下面SIM和它COM的通用例子。SIM中根據(jù)函數(shù)有個(gè)n條輸入，我們的（n+1 x n）輸入矩陣中每行ti有（i-1）0s，第（tn+1）th行是全（1，1，. . . ，1）向量。圖1（a）展示了SIM的初始化狀態(tài)。對(duì)于M列的輸出矩陣，我們稱是SIM按照F函數(shù)對(duì)應(yīng)生成的。

根據(jù)上面的呈現(xiàn)的三個(gè)可測(cè)試條件，我們現(xiàn)在可以用下面的幾個(gè)原則去定位固定型故障和橋故障。

1）如果在輸入線xi（1≤i≤n）上有一個(gè)故障s-a-0，那么SIM中的輸入形式t（n-i+2）將要變成t（n-i+1），這讓SIM中的兩個(gè)相鄰行t（n-i+2） 和t（n-i+1）相等。同樣，在輸出矩陣中，F(xiàn)（n-i+2）也將變成F（n-i+1），標(biāo)記為：F（n-i+2） F（n-i+1）.

2）如果在兩行以上輸入線上有NFBF錯(cuò)誤，就是xi和xj，（1≤i≤j≤n ）那么，根據(jù)上面相同的原因，可以很容易地知道在輸出形式COM中將發(fā)生F（n-i+2） F（n-i+1）的變化。

3）接下來(lái)可能會(huì)瑣碎些，對(duì)于輸出線上的固定型故障或NFBF故障，可以直接觀察輸出矩陣就可以看出來(lái)。因此，上面的規(guī)則使用（n+1 x n）SIM和（n+1 x m）COM可以應(yīng)用來(lái)去確定固定型故障和橋故障。

對(duì)于輸入線和輸出線間的FBF故障，可以使用測(cè)試序列（0，LM）在加在SIM的前面就測(cè)試任何在輸入線和輸出線間的FBF故障。

事實(shí)上，在圖1上描述的SIM不一定能保證產(chǎn)生一個(gè)有效的COM去滿足上面的三個(gè)測(cè)試條件。因此，現(xiàn)在的測(cè)試生成算法如果生成一個(gè)錯(cuò)誤的SIM，就交換SIM中的列再生成合適的COM，可以有效地適應(yīng)初始SIM。這里講一種列交換算法，它將修飾輸出形式COM以滿足合適的測(cè)試條件。

列交換算法的任務(wù)是進(jìn)行列交換，描述如下。

列交換規(guī)則：

第一步：對(duì)于給定的函數(shù)F（n ， m），形成初始化的a （n+1） x n SIM，可如圖3所示。

第二步：根據(jù)給定的函數(shù)和SIM，運(yùn)算生成它相應(yīng)的COM。

第三步：檢查新生成的COM是否符合三個(gè)條件。 符合條件就停止運(yùn)行。不符合條件進(jìn)行第四步。

第四步：完成當(dāng)前SIM中所有列的交換以生成一個(gè)新SIM，轉(zhuǎn)回第二步。

為了舉例說(shuō)了列交換算法中的列交換，我們考慮了一個(gè)熟知的電路上的應(yīng)用。如圖4，它是一個(gè)4位的ALU，帶著14條輸入線和5條輸出線，首先從它初始的SIM通過(guò)函數(shù)得到相應(yīng)的COM。

然而很明顯可以看到，從初始SIM計(jì)算出來(lái)的COM并不滿足上面三個(gè)可測(cè)試條件。因?yàn)橐恍〤OM中相鄰的行是相等的。如F4 =F5 ，F(xiàn)6 =F7 ，F(xiàn)10 = …=F14。經(jīng)過(guò)重復(fù)執(zhí)行2-4步，我們通過(guò)交換SIM中列的位置可以改變的輸入形式，因此再次計(jì)算所得的COM也會(huì)改變它的值，此時(shí)再次重新檢查新的COM是否滿足三個(gè)輸出條件。經(jīng)過(guò)幾次重復(fù)列交換算法后，初始的SIM和COM已經(jīng)改變了他們的形式產(chǎn)生出新的COM，新計(jì)算的COM也可滿足可以可測(cè)試條件，這樣我們就可以根據(jù)原則進(jìn)行測(cè)試。變成圖5所示。

4 加速尋找速度和實(shí)驗(yàn)結(jié)果

交換算法可以生成有效的SIM和它的COM，事實(shí)上，最壞的情況下，交換算法的時(shí)間復(fù)雜度可以達(dá)O（n），n為被測(cè)試電話的輸入線數(shù)。這是因?yàn)樗枰锌赡艿妮斎肱帕腥フ业揭粋€(gè)合適的SIM。當(dāng)N增加時(shí)，算法的時(shí)間復(fù)雜度也就增加。因此，一個(gè)隨機(jī)的交換算法可以很好地提高查找速度以生成符合條件的COM。使用隨機(jī)交換算法，我們每次交換的SIM的n個(gè)輸入數(shù)列是隨機(jī)產(chǎn)生的，而不是以前算法中的相鄰地一個(gè)接一下產(chǎn)生的。理論上，最壞的情況下，隨機(jī)交接算法和原始算法有相同的時(shí)間復(fù)雜度，但在實(shí)際操作中，前者卻是更高效的。下面的表中，列出了以四項(xiàng)基準(zhǔn)比較這兩種算法的實(shí)驗(yàn)運(yùn)行時(shí)間。

參考文獻(xiàn)：

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第2篇：大規(guī)模集成電路范文

關(guān)鍵詞 數(shù)字集成電路 CMOS數(shù)字集成電路 邏輯功能 內(nèi)部設(shè)計(jì) 注意事項(xiàng)

中圖分類號(hào)：TN79 文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼：A

1關(guān)于數(shù)字集成電路邏輯功能及其內(nèi)部設(shè)計(jì)的分析

日常生活中的數(shù)字集成電路產(chǎn)品是非常多的，通過(guò)對(duì)其電路結(jié)構(gòu)的分析，可以分為T(mén)TL系列及其MOS系列。TTL數(shù)字集成電路進(jìn)行了電子及其空穴載流子的導(dǎo)電，我們稱之為雙極性電路。MOS數(shù)字集成電路進(jìn)行了載流子導(dǎo)電電路的應(yīng)用，其中的電子導(dǎo)電部分，我們稱之為NMOS 電路，將那種空穴導(dǎo)電電路稱之為PMOS電路。PMOS電路及其NMOS的組合電路，我們稱之為CMOS電路。

相對(duì)于TTL數(shù)字集成電路，CMOS數(shù)字集成電路具備良好的應(yīng)用優(yōu)勢(shì)，其工作電源的電壓范圍比較寬，并且其靜態(tài)功耗水平比較低，其抗干擾能力比較強(qiáng)，具備較高的輸入阻抗，并且其應(yīng)用成本比較低。介于這些優(yōu)勢(shì)，CMOS數(shù)字集成電路得到了廣泛的應(yīng)用。在日常生活中，數(shù)字集成電路的品種是非常多的，包括門(mén)電路、計(jì)數(shù)器、觸發(fā)器、編譯碼器、存儲(chǔ)器等。

我們可以將數(shù)字邏輯電路分為時(shí)序邏輯電路及其組合邏輯電路。在組合邏輯電路的分析中，任意時(shí)刻的輸出取決于其當(dāng)時(shí)的輸入，這跟電路的工作狀態(tài)沒(méi)有關(guān)系。比較常見(jiàn)的組合邏輯電路有編碼器、譯碼器及其數(shù)據(jù)選擇器。在時(shí)序邏輯電路中，任意時(shí)刻的輸出取決于該時(shí)刻的輸入，與電路的原先狀態(tài)存在聯(lián)系。時(shí)序邏輯電路具備記憶的功能，其內(nèi)部含有存儲(chǔ)單元電路，比較常見(jiàn)的時(shí)序邏輯電路有移位寄存器、計(jì)數(shù)器等。

實(shí)際上，不同組合的邏輯電路及其時(shí)序邏輯電路是非常多的，其應(yīng)用比較廣泛，并且有很多標(biāo)準(zhǔn)化、系列化的集成電路產(chǎn)品，我們把這些產(chǎn)品稱之為通用集成電路。我們把那些專門(mén)用途設(shè)計(jì)制作的集成電路稱之為專用集成電路。

數(shù)字電路是由組合邏輯及其寄存器構(gòu)成的，組合邏輯是由基本門(mén)組成的函數(shù)，其輸出與當(dāng)前的輸入存在關(guān)系。比如組合邏輯的邏輯計(jì)算。時(shí)序電路包含基本門(mén)，也包括一系列的存儲(chǔ)元件，進(jìn)行過(guò)去信息的保存。時(shí)序電路的穩(wěn)態(tài)輸出與當(dāng)前的輸入有關(guān)，跟過(guò)去的輸入狀態(tài)也有關(guān)。時(shí)序電路在進(jìn)行邏輯運(yùn)算的同時(shí)，也會(huì)進(jìn)行處理結(jié)果的存儲(chǔ)，從而方便下一次的運(yùn)算。

從功能上來(lái)說(shuō)，數(shù)字集成電路分為數(shù)據(jù)通路及其控制邏輯部分。這些部分都由一系列的時(shí)序邏輯電路構(gòu)成，都是同步的時(shí)序電路，時(shí)序電路被多個(gè)觸發(fā)器及其寄存器分為若干的節(jié)點(diǎn)。這些觸發(fā)器在時(shí)鐘控制下會(huì)進(jìn)行同樣節(jié)拍的工作，從而進(jìn)行設(shè)計(jì)的簡(jiǎn)化。

2 CM0S系列集成電路的一般特性與方式

（1）CMOS系統(tǒng)集成電路是數(shù)字集成電路的主流模式。其集成電路的工作電源電壓范圍是3～18V，74HC系列是2～6V，黨電源電壓VDD=5V時(shí)，其CMOS電路的靜態(tài)功耗分別為：中規(guī)模集成電路類是25～100%eW，緩沖器及其觸發(fā)器類是5～20%eW，門(mén)電路類是2.5～5%eW，其輸入阻抗非常高，CMOS電路幾乎沒(méi)有驅(qū)動(dòng)電路功率的消耗。

該電路也具備良好的抗干擾能力，其電源電壓的允許范圍比較大，其輸出高低電平的擺幅也比較大，其抗干擾能力非常強(qiáng)，其噪音容限值也非常的大，其電源電壓越高，其噪聲容限值非常的大，CMOS電路電源的利用系數(shù)非常的高。

CMOS數(shù)字集成電路也具備良好的扇出能力，在進(jìn)行低頻工作時(shí)，其輸出端可以進(jìn)行50個(gè)數(shù)量以上的CMOS器件的驅(qū)動(dòng)，其也具備良好的抗輻射能力。CMOS管是一種多數(shù)載流子受控導(dǎo)電器件，針對(duì)載流子濃度，射線輻射的影響不大。CMOS電路特別適合于進(jìn)行航天、衛(wèi)星等條件下的工作。CMOS集成電路的功耗水平比較低，其內(nèi)部發(fā)熱量比較小，集成度非常的高，電路自身是一種互補(bǔ)對(duì)稱結(jié)構(gòu)，環(huán)境溫度的不斷變化，其參數(shù)會(huì)進(jìn)行相互補(bǔ)償，因此，能夠保證良好的溫度穩(wěn)定性。

（2）相對(duì)于TTL集成電路，CMOS集成電路的制造工藝更加的簡(jiǎn)單，其進(jìn)行硅片面積的占用也比較小，比較適合于進(jìn)行大規(guī)模及其超大規(guī)模集成電路的制造及其應(yīng)用。在CMOS電路的應(yīng)用過(guò)程中，不能進(jìn)行多余輸入端的懸空，否則就可能導(dǎo)致靜電感應(yīng)的較高電壓的產(chǎn)生，從而導(dǎo)致器件的損壞情況，這些多余的輸入端需要進(jìn)行YSS的接入，或者實(shí)現(xiàn)與其它輸入端進(jìn)行并聯(lián)，這需要針對(duì)實(shí)際情況做好相關(guān)的決定。

CMOS電路輸入阻抗水平是比較高的，容易受到靜電感應(yīng)發(fā)生擊穿情況，為了滿足實(shí)際工作的要求，我們需要做好靜電屏蔽工作。在CMOS電路焊接過(guò)程中，需要做好焊接時(shí)間的控制，保證焊接工具的良好應(yīng)用，進(jìn)行焊接溫度的良好控制。

3結(jié)語(yǔ)

在數(shù)字集成電路的設(shè)計(jì)過(guò)程中，很多標(biāo)準(zhǔn)通用單元得到積累，比如選擇器、比較器、乘法器、加法器等，這些單元電路的形狀規(guī)則更加方便集成，這說(shuō)明數(shù)字電路在集成電路中得到更好的發(fā)展及其應(yīng)用，這是數(shù)字集成電路應(yīng)用體系的主要工作模式。

參考文獻(xiàn)

[1] 黃越.數(shù)字集成電路自動(dòng)測(cè)試生成算法研究[D].江南大學(xué)，2012.

第3篇：大規(guī)模集成電路范文

【關(guān)鍵詞】故障 集成電路 檢修

隨著我國(guó)電視工業(yè)發(fā)展，CRT電視機(jī)和液晶電視機(jī)并存的今天，CRT電視機(jī)以逐漸沒(méi)落的身份出現(xiàn)，其維修也成為一個(gè)很大的問(wèn)題。通過(guò)實(shí)際維修及對(duì)彩電電路圖的分析，總結(jié)出彩電圖紙識(shí)讀規(guī)律及維修關(guān)鍵點(diǎn)對(duì)故障部位診斷的部分經(jīng)驗(yàn)，現(xiàn)就關(guān)于彩電識(shí)圖和維修關(guān)鍵點(diǎn)應(yīng)用進(jìn)行論述，以拋磚引玉。

一、行電路集成電路引腳規(guī)律

行掃描電路通常情況下根據(jù)集成電路的規(guī)模大小所設(shè)引腳不同，其不同電路設(shè)置引腳不同。（一）行鑒相器一般設(shè)置一個(gè)引腳，且多為鑒相器濾波電路外接端，外接濾波電容或積分濾波電路；（二）行振蕩電路一般設(shè)一個(gè)引腳，多為振蕩定時(shí)網(wǎng)略外接端，多接晶體或定時(shí)電路；（三）行預(yù)激勵(lì)級(jí)一般設(shè)一個(gè)輸出端，經(jīng)簡(jiǎn)單濾波后直接加到行激勵(lì)管基極。（四）一般為了防止電路異常會(huì)設(shè)置保護(hù)電路引腳一到兩個(gè)，接入外來(lái)出發(fā)脈沖，切斷行脈沖迫使行停止工作或直接加到MPU迫使機(jī)器待機(jī)。

二、場(chǎng)電路集成塊引腳規(guī)律

場(chǎng)掃描電路通常在大規(guī)模集成電路上一般設(shè)置三個(gè)至四個(gè)引腳：（一）一般大規(guī)模集成電路場(chǎng)振蕩由二倍行頻分頻而來(lái)，個(gè)別電路會(huì)設(shè)置場(chǎng)同步分離濾波電路，外接濾波電容；（二）多數(shù)情況下會(huì)設(shè)置一個(gè)反饋端子，外接場(chǎng)交直流負(fù)反饋網(wǎng)絡(luò)，進(jìn)行線性校正；（三）場(chǎng)脈沖輸出一般設(shè)置一至兩個(gè)端子，主要看是與那一種場(chǎng)輸出電路，單端還是雙端，多與場(chǎng)輸出塊輸入腳相連；（四）個(gè)別電路還會(huì)設(shè)置電子開(kāi)關(guān)電路（鋸齒波電壓形成電路）的外接端子，外接RC定時(shí)元件，用以形成鋸齒波電壓，甚至同時(shí)作為反饋引腳，從而減少了集成電路的引腳。

三、場(chǎng)輸出集成電路引腳規(guī)律

場(chǎng)輸出集成塊一般是單列直插式功率集成電路，多有七到十二個(gè)引腳，但有幾個(gè)引腳是有規(guī)律可循的，現(xiàn)就目前較多的OTL場(chǎng)功放集成電路規(guī)律談一下我的看法：（一）場(chǎng)脈沖輸入引腳多直接或經(jīng)過(guò)電阻與小信號(hào)處理集成電路輸出引腳相連，實(shí)測(cè)電壓較低；（二）輸出引腳可通過(guò)偏轉(zhuǎn)線圈尋找，多在其回路上有個(gè)容量較大的S校正電容，直流電位多為電源一半；（三）自舉引腳多經(jīng)過(guò)電容與輸出相連，且為獨(dú)立引腳，其電壓近似甚或會(huì)高過(guò)電源電壓；（四）通常場(chǎng)功放集成電路一般設(shè)兩個(gè)電源引腳，離輸入引腳近的為低壓前置供電，另一個(gè)為功放供電，多數(shù)為24―27V左右。

四、行場(chǎng)掃描電路的維修

行掃描電路故障機(jī)率雖然較大，但多數(shù)為輸出電路故障，一般通過(guò)測(cè)電阻、測(cè)電壓就能解決。測(cè)電阻時(shí)其維修關(guān)鍵點(diǎn)為行管集電極對(duì)地電阻大小，太大有開(kāi)路之嫌，太小有短路之嫌；且該點(diǎn)阻值可一箭三雕，同時(shí)測(cè)量了行輸出管、行逆程電容、行偏轉(zhuǎn)回路及阻尼二極管。測(cè)電壓判斷故障時(shí)，關(guān)鍵注意行管基極的負(fù)壓，該電壓正常與否是行輸出和行前級(jí)故障的分路點(diǎn)，其電壓與行輸出供電共同決定行輸出電路是否正常工作，才能進(jìn)一步去判斷故障。其次是行輸出各供電輸出電源電壓的正常與否，某些電源在故障之前出現(xiàn)短路，使行電路過(guò)載而燒毀，也是正常；在行掃描集成電路引腳上，一般注意行供電及APC濾波電路，振蕩電路損壞機(jī)率非常小。

場(chǎng)電路故障規(guī)律類似行電路，主要是場(chǎng)功率放大器易損壞，多數(shù)情況下更換場(chǎng)塊就可修復(fù)；場(chǎng)功放集成電路的維修關(guān)鍵點(diǎn)是場(chǎng)塊功率輸出端，該電壓不對(duì)，檢查供電電路正常，一般場(chǎng)塊損壞。在場(chǎng)電路同時(shí)有一個(gè)較易出現(xiàn)的故障，即場(chǎng)線性不良，該故障是由元件性能不良引起，主要應(yīng)檢查場(chǎng)電路相關(guān)電解電容及場(chǎng)塊，多數(shù)情況下，自舉電容，濾波電容，鋸齒波形成電容，反饋電容等性能不良居多。

五、伴音電路的檢修

伴音電路的原理相對(duì)較簡(jiǎn)單，但其故障幾率較大，且多發(fā)生在電壓高電流大的功放級(jí)電路；另一個(gè)就是鑒頻器電路，為了改善音質(zhì)，多數(shù)廠家喜歡使用高Q值的鑒頻器線圈，其內(nèi)附電容銀電極暴露在空氣中成為伴音電路的易損件。弄清信號(hào)流程，抓住規(guī)律，相信我們能夠輕易解決問(wèn)題。

（一）伴音小信號(hào)處理電路

伴音小信號(hào)處理電路一般設(shè)置5―10個(gè)引腳，因集成電路的規(guī)模不同而有所變化：（一）伴音中頻限幅放大電路在小規(guī)模集成電路中，一般輸入引腳設(shè)兩個(gè)，為6.5MHz（多制式機(jī)常見(jiàn)6.0MHz）平衡輸入端子，外接6.5MHz陶瓷濾波器，以進(jìn)行伴音第二中頻的選頻工作，為穩(wěn)定集成內(nèi)部直流工作點(diǎn)，通常再設(shè)兩個(gè)伴音中頻交流旁路電容外接端，避免交流增益下降；大規(guī)模集成電路一般各只有一個(gè)；（二）鑒頻器電路外設(shè)引腳一般為2―3個(gè)，中小規(guī)模一般設(shè)兩個(gè)陶瓷鑒頻器或LC移相網(wǎng)絡(luò)；大規(guī)模集成通常設(shè)一個(gè)；（三）直流音量控制電路一般設(shè)一個(gè)端子，外接音量控制網(wǎng)絡(luò)，多數(shù)機(jī)型在此之外，還會(huì)設(shè)置一個(gè)去加重端子，外接2000pf―0.01μf去加重大電容；（四）音頻輸出電路一般設(shè)引腳1―2個(gè)，一個(gè)音頻輸出，經(jīng)0.22μf―4.7μf電容接功放輸入端子；有些機(jī)型有音調(diào)調(diào)節(jié)電路，但通常不做專用端子，由去加重端子兼顧。

（二）伴音功放引腳規(guī)律

伴音功率放大器集成電路多采用常見(jiàn)的普通音頻功放集成電路，其規(guī)律比較好找：（一）通過(guò)喇叭很易找到功放輸出，OTL經(jīng)過(guò)個(gè)較大的電解電容，OTL功放及BTL功放則電路直接接喇叭；（二）自舉電路通常有專用引腳，接一個(gè)47μf ―220μf 電解電容由正及負(fù)接功放輸出端子；（三）反饋電路一般對(duì)地接一電阻與電容串接的濾波移相網(wǎng)絡(luò)；（四）高頻旁路濾波外接小容量高頻濾波電容。等等等等，只要我們認(rèn)真讀圖，抓住規(guī)律，仔細(xì)看一下電路，會(huì)發(fā)現(xiàn)有很多的相近相似的地方，久而久之，讀圖能力會(huì)大大提高。

（三）伴音電路檢修點(diǎn)

第4篇：大規(guī)模集成電路范文

【關(guān)鍵詞】現(xiàn)代；計(jì)算機(jī)技術(shù)；發(fā)展；方向；趨勢(shì)

0引言

計(jì)算機(jī)是我們工作生活中一個(gè)比較常見(jiàn)的物品，又被人們習(xí)慣性地稱為“電腦”，它不僅被應(yīng)用于高速數(shù)據(jù)跟邏輯的運(yùn)算，而且具備強(qiáng)大的存儲(chǔ)與修改功能，是一種現(xiàn)代化的智能電子設(shè)備。計(jì)算機(jī)有兩部分主體結(jié)構(gòu)，一部分是硬件系統(tǒng)，另一部分是軟件系統(tǒng)，共同保障計(jì)算機(jī)的正常運(yùn)轉(zhuǎn)。伴隨著科技水平的不斷提升，計(jì)算機(jī)技術(shù)也在隨之發(fā)展，計(jì)算機(jī)作為一個(gè)綜合型的生活辦公工具應(yīng)用到人們生活工作中的同時(shí)，其發(fā)展備受人們的關(guān)注，相關(guān)行業(yè)人員也在致力于計(jì)算機(jī)的發(fā)展研究過(guò)程中，計(jì)算機(jī)技術(shù)的發(fā)展已經(jīng)逐漸走上了一個(gè)越來(lái)越成熟的軌道。但是，當(dāng)前計(jì)算機(jī)技術(shù)的發(fā)展也受到了一定的阻礙，人們過(guò)于關(guān)注對(duì)計(jì)算機(jī)娛樂(lè)方面的應(yīng)用，比如聊天、網(wǎng)絡(luò)購(gòu)物等內(nèi)容，卻忽視了現(xiàn)代計(jì)算機(jī)技術(shù)的發(fā)展與創(chuàng)新，甚至不了解。本文將帶領(lǐng)大家一起去了解一下現(xiàn)代計(jì)算機(jī)技術(shù)的發(fā)展歷程以及未來(lái)的發(fā)展動(dòng)向。

1計(jì)算機(jī)的發(fā)展歷程

世界上第一臺(tái)計(jì)算機(jī)出現(xiàn)在1946年2月，?？颂睾湍死@兩位美國(guó)的發(fā)明家在美國(guó)的賓夕法尼亞大學(xué)共同將它研制出來(lái)。世界上第一臺(tái)計(jì)算機(jī)的問(wèn)世開(kāi)啟了人類社會(huì)發(fā)展的新篇章，讓社會(huì)發(fā)展邁出了一大步，開(kāi)啟了人們的新生活，帶領(lǐng)人們進(jìn)入了信息革命時(shí)期。世界上第一臺(tái)計(jì)算機(jī)跟我們現(xiàn)在的計(jì)算機(jī)外形差距較大，那臺(tái)計(jì)算機(jī)有好幾間房子一樣大，但是它的計(jì)算速度卻并沒(méi)有高于我們現(xiàn)在使用的微型計(jì)算機(jī)。從世界上第一臺(tái)計(jì)算機(jī)問(wèn)世到現(xiàn)在我們使用的計(jì)算機(jī)，無(wú)數(shù)的計(jì)算機(jī)研發(fā)人員一直在努力，尤其是科學(xué)家馮諾依曼在計(jì)算機(jī)技術(shù)的發(fā)展進(jìn)程中發(fā)揮了重要的作用，被后人稱為“現(xiàn)代計(jì)算機(jī)之父”。馮諾依曼開(kāi)啟了計(jì)算機(jī)發(fā)展的新時(shí)代，帶動(dòng)了廣大科研人員對(duì)計(jì)算機(jī)技術(shù)的研究。隨著時(shí)間的推移，計(jì)算機(jī)的發(fā)展可以分為四代：

1.1電子計(jì)算機(jī)

電子計(jì)算機(jī)時(shí)代是計(jì)算機(jī)發(fā)展的第一個(gè)時(shí)代，從1946年開(kāi)始，到1957年結(jié)束。電子計(jì)算機(jī)與世界上第一臺(tái)計(jì)算機(jī)有些類似，電子元件是計(jì)算機(jī)的主要器件，電子計(jì)算機(jī)也因此得名。電子管具的體積比較大，但是存儲(chǔ)的容量相對(duì)較小，因此電子計(jì)算機(jī)的耗電比較快，不具備穩(wěn)定性。這類計(jì)算機(jī)一般應(yīng)用于科學(xué)研究過(guò)程中，而且在電子計(jì)算機(jī)時(shí)代，計(jì)算機(jī)一般使用機(jī)器語(yǔ)言或者是匯編語(yǔ)言，并不具備系統(tǒng)軟件。

1．2晶體管計(jì)算機(jī)

隨著科學(xué)技術(shù)的不斷發(fā)展，量子力學(xué)和固體物理能帶論的不斷呈現(xiàn)，開(kāi)啟了半導(dǎo)體器件的計(jì)算機(jī)時(shí)代，理論研究給半導(dǎo)體器件的發(fā)展奠定了理論基礎(chǔ)，提供了實(shí)踐的依據(jù)。早在20世紀(jì)50年代上下，點(diǎn)接觸晶體管就被兩位科學(xué)家研制出來(lái)。隨著科學(xué)的發(fā)展，結(jié)型晶體管又相繼問(wèn)世。自此之后，晶體管的發(fā)展就步入一個(gè)相對(duì)成熟的軌道，成功的應(yīng)用與計(jì)算機(jī)的發(fā)展過(guò)程匯總，讓計(jì)算機(jī)的發(fā)展進(jìn)入了第二個(gè)時(shí)代，也就是我們所說(shuō)的晶體管計(jì)算機(jī)時(shí)代。晶體管計(jì)算機(jī)時(shí)代從1958年開(kāi)始，結(jié)束于1964年。晶體管具有相對(duì)優(yōu)勢(shì)，它雖然體積較小，但是質(zhì)量比較輕，而且工作的效率相對(duì)較高，散熱比較少，損耗較低，對(duì)于電子管的效能發(fā)揮到了一定的程度，因此，二代計(jì)算機(jī)的體積在不斷減少，但是使用的年限卻在增加，這就為計(jì)算機(jī)的發(fā)展奠定了基礎(chǔ)。除此之外，晶體管計(jì)算機(jī)的創(chuàng)新之處在于它擁有浮點(diǎn)算法這一新應(yīng)用，對(duì)于計(jì)算機(jī)運(yùn)算水平是一個(gè)大的提升，讓計(jì)算機(jī)在數(shù)據(jù)處理以及工業(yè)控制方面有了更大的突破。

1．3中小規(guī)模集成電路計(jì)算機(jī)

隨著晶體管的呈現(xiàn)，使得集成電路的發(fā)展更加順暢。不久之后，科研人員開(kāi)始著手于研究晶體管以及其他電學(xué)元件，以此來(lái)制作更加復(fù)雜高端精密的集成電路。在1959年，有位著名的發(fā)明學(xué)家叫做羅伯特羅伊斯，他發(fā)明的集成電路更加復(fù)雜化，是通過(guò)平面工藝生產(chǎn)出來(lái)的，可以應(yīng)用于商業(yè)領(lǐng)域。從那之后，計(jì)算機(jī)開(kāi)始利用中小規(guī)模集成電路來(lái)進(jìn)行技術(shù)發(fā)展，也就隨之進(jìn)入了第三個(gè)計(jì)算機(jī)時(shí)代，被人們稱為中小規(guī)模集成電路計(jì)算機(jī)時(shí)代。中小規(guī)模集成電路計(jì)算機(jī)時(shí)代與之前存在的兩個(gè)計(jì)算機(jī)時(shí)代相比，又有所不同，中小規(guī)模集成電路計(jì)算機(jī)的中心部分仍舊是存儲(chǔ)器，但是計(jì)算機(jī)的體積開(kāi)始不斷減小，與此同時(shí)，計(jì)算機(jī)的能耗在不斷降低，但是運(yùn)算的速度以及可靠的程度卻又在不斷提升過(guò)程中。除此之外，中小規(guī)模集成電路計(jì)算機(jī)的外部設(shè)備得到完善與更新，它的功能組件強(qiáng)化，不僅可以應(yīng)用于數(shù)據(jù)處理，還能夠在企業(yè)管理、輔助設(shè)計(jì)、輔助制造跟自動(dòng)控制領(lǐng)域進(jìn)行充分的應(yīng)用。

1．4大規(guī)模和超大規(guī)模集成電路計(jì)算機(jī)

伴隨著我國(guó)經(jīng)濟(jì)水平的提升，工業(yè)制造水平也在逐步提升，集成電路的技術(shù)有了新的發(fā)展。摩爾定律表明，當(dāng)價(jià)格不變的時(shí)候，集成電路上能夠容納的晶體管數(shù)目，每隔18個(gè)月就能夠增加一倍，在這個(gè)過(guò)程中，它的性能水平也在提升，計(jì)算機(jī)的發(fā)展進(jìn)入了一個(gè)全新的時(shí)代，被人們稱為大規(guī)模和超大規(guī)模集成電路計(jì)算機(jī)時(shí)代。自從1970年之后，以大規(guī)模集成電路和超大規(guī)模集成電路為標(biāo)志的計(jì)算機(jī)開(kāi)啟了第四個(gè)全新的計(jì)算機(jī)時(shí)代。升級(jí)發(fā)展之后的第四代計(jì)算機(jī)的性能有了明顯的優(yōu)勢(shì)，存儲(chǔ)的容量明顯得到了提升，在一個(gè)一厘米的圓形芯片上可以容納上百萬(wàn)的電子元件。在這一時(shí)期，第四代計(jì)算機(jī)時(shí)代呈現(xiàn)出一個(gè)關(guān)鍵性的分化，大規(guī)模、超大規(guī)模集成電路為依托不斷發(fā)展起來(lái)的微處理器以及微型計(jì)算機(jī)。微型計(jì)算機(jī)的發(fā)展可以大致分為四個(gè)階段。第一個(gè)階段是1971年到1973年，微處理器主要有三種，分別為4004、4040以及8008這個(gè)類型。第二個(gè)階段是1973年到1977年，這一個(gè)時(shí)間段是微型計(jì)算機(jī)的發(fā)展以及創(chuàng)新的時(shí)期。第三個(gè)階段是從1978年開(kāi)始到1983年結(jié)束，在這一時(shí)間段里，是十六位微型計(jì)算機(jī)的發(fā)展階段。第四個(gè)階段從1983年開(kāi)始，也是三十二位微型計(jì)算機(jī)的發(fā)展階段。

2計(jì)算機(jī)技術(shù)的新發(fā)展方向與趨勢(shì)

時(shí)代在不斷變革和發(fā)展，大規(guī)模和超大規(guī)模集成電路計(jì)算機(jī)也處在一個(gè)時(shí)刻發(fā)展與創(chuàng)新的過(guò)程中，但是隨著經(jīng)濟(jì)水平以及科技水平的提升，現(xiàn)代各個(gè)領(lǐng)域的發(fā)展也隨之進(jìn)行著，無(wú)論是生物領(lǐng)域還是物理領(lǐng)域，以及一些新材料的出現(xiàn)，都為新型計(jì)算機(jī)的發(fā)展奠定著前提條件。一系列新型計(jì)算機(jī)已經(jīng)在醞釀發(fā)展的過(guò)程中，比如生物計(jì)算機(jī)、量子計(jì)算機(jī)、光子計(jì)算機(jī)以及納米計(jì)算機(jī)等。或者這些新型計(jì)算機(jī)的發(fā)展還未成型或者技術(shù)發(fā)展沒(méi)有十分成熟，但是它們的呈現(xiàn)代表著計(jì)算機(jī)技術(shù)發(fā)展的新方向與新趨勢(shì)。

2.1生物計(jì)算機(jī)

生物計(jì)算機(jī)是一種全新的計(jì)算機(jī)類型，還有一個(gè)別名叫做仿生計(jì)算機(jī)，它的創(chuàng)新之處在于使用了生物芯片替代了原本半導(dǎo)體上大量晶體管。生物計(jì)算機(jī)主要通過(guò)生物工程技術(shù)所出現(xiàn)的蛋白質(zhì)分子來(lái)作為主要的原料以及生物芯片，所以被叫做生物計(jì)算機(jī)。脫氧核糖核苷酸上存在著一些遺傳信息，它是一種雙螺旋結(jié)構(gòu)，因此，它具有強(qiáng)大的存儲(chǔ)優(yōu)勢(shì)，而且運(yùn)算能力非常強(qiáng)大，與傳統(tǒng)硅片相比更是略勝一籌。數(shù)據(jù)顯示，一毫克的DNA的存儲(chǔ)能力與一萬(wàn)片的光碟片差不多大容量。除此之外，DNA還具有超能力，能夠同時(shí)進(jìn)行兆個(gè)運(yùn)算指令。這一系列的優(yōu)勢(shì)因素都給生物計(jì)算機(jī)的成熟發(fā)展奠定了基礎(chǔ)，讓它具備了集成電路所沒(méi)有的優(yōu)勢(shì)，大致可以歸結(jié)于五點(diǎn)。第一點(diǎn)，生物計(jì)算機(jī)的體積比較小，但是容量卻比較大。第二，生物計(jì)算機(jī)具有良好的可靠性，這主要得益于計(jì)算機(jī)的內(nèi)部芯片，一旦出現(xiàn)問(wèn)題，這個(gè)內(nèi)部芯片可以自行進(jìn)行恢復(fù)。第三，生物計(jì)算機(jī)的存儲(chǔ)量比較大，有關(guān)數(shù)據(jù)顯示，一立方米的生物大分子溶液里大約可以存儲(chǔ)一萬(wàn)億的二進(jìn)制數(shù)據(jù)。第四，生物計(jì)算機(jī)的運(yùn)算速度比較快，這主要得益于DNA能夠同時(shí)處理兆個(gè)指令的特別優(yōu)勢(shì)。第五，生物計(jì)算機(jī)具有良好的并行性。跟過(guò)去的計(jì)算機(jī)不同的是，生物計(jì)算機(jī)得益于DNA與蛋白質(zhì)，因此充分發(fā)揮并行功能。生物計(jì)算機(jī)以它獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)成為21世紀(jì)科學(xué)技術(shù)發(fā)展的一個(gè)重要工程，當(dāng)前，生物計(jì)算機(jī)的發(fā)展方向主要有兩個(gè)，一個(gè)是研制有機(jī)分子元件，利用它來(lái)替換半導(dǎo)體元件，為分子計(jì)算機(jī)的出現(xiàn)提供幫助。另一個(gè)是通過(guò)不斷探究人腦結(jié)構(gòu)跟思維規(guī)律來(lái)研究生物計(jì)算機(jī)的結(jié)構(gòu)，為生物計(jì)算機(jī)的成熟呈現(xiàn)奠定基礎(chǔ)。

2．2量子計(jì)算機(jī)

量子計(jì)算機(jī)也是新型計(jì)算機(jī)技術(shù)發(fā)展的產(chǎn)物，它是建立在量子力學(xué)規(guī)律以及依托量子效應(yīng)和量子比特而進(jìn)行的超速運(yùn)算、強(qiáng)大存儲(chǔ)的一種新型計(jì)算機(jī)裝置。假如這個(gè)裝置處理和運(yùn)算時(shí)使用的是量子信息，那么在進(jìn)行量子算法的時(shí)候，就是所謂的量子計(jì)算機(jī)。量子計(jì)算機(jī)與一般計(jì)算機(jī)的一個(gè)不同之處在于它不僅能夠使用0和1進(jìn)行存儲(chǔ)，還能夠用粒子的量子疊加來(lái)進(jìn)行存儲(chǔ)信息的匯總。有關(guān)數(shù)據(jù)顯示，一個(gè)四十位元的量子計(jì)算機(jī)可以解開(kāi)一千零二十四位的集成電路計(jì)算機(jī)需要花費(fèi)幾十年才能夠解決的問(wèn)題。量子計(jì)算機(jī)的運(yùn)算速度令人驚嘆。到現(xiàn)在為止，全球還沒(méi)有呈現(xiàn)出一個(gè)成熟意義上的量子計(jì)算機(jī)，不同國(guó)家和地區(qū)的科研人員仍然沒(méi)有放棄努力，致力于對(duì)量子計(jì)算機(jī)的研究過(guò)程中，呈現(xiàn)出許多跟量子計(jì)算機(jī)相關(guān)的科學(xué)方案以及科學(xué)假設(shè)。在實(shí)際研究過(guò)程中，這一系列的科學(xué)方案仍然存在著一些不成熟的地方，但是伴隨著時(shí)代的進(jìn)步，相信量子計(jì)算機(jī)終究會(huì)被攻克，完美地呈現(xiàn)在人們的生活中。

2．3光子計(jì)算機(jī)

科學(xué)技術(shù)的發(fā)展帶動(dòng)著光學(xué)的發(fā)展，科研人員開(kāi)始著手用光子來(lái)替代電子，光運(yùn)算開(kāi)始慢慢取代電運(yùn)算，一系列的光學(xué)元件開(kāi)始取代電子元件與電子設(shè)備，不斷應(yīng)用于電子計(jì)算機(jī)的發(fā)展過(guò)程中。光子計(jì)算機(jī)主要是運(yùn)用光信號(hào)進(jìn)行數(shù)字運(yùn)算、邏輯測(cè)算以及信息的存儲(chǔ)處理等的新型計(jì)算機(jī)，主要的優(yōu)勢(shì)可以歸納為三個(gè)方面：第一，強(qiáng)可靠性，光子沒(méi)有電荷，所以就不存在電磁相互作用，具有較強(qiáng)的可靠性。第二，光子計(jì)算機(jī)的運(yùn)算速度極高，光子的并行性比較強(qiáng)，因此具有較強(qiáng)的處理能力，加上光子傳播速度很快，進(jìn)一步提升了光子計(jì)算機(jī)的運(yùn)算速度。第三具有超大的存儲(chǔ)容量，光子互聯(lián)不受到電磁的干擾，因此具有較高的互聯(lián)密度。

2．4納米計(jì)算機(jī)

納米材料作為一種新型的高科技材料，在薄膜晶體管中的應(yīng)用解放了傳統(tǒng)意義上的晶體管。納米計(jì)算機(jī)解決了一些頑固的技術(shù)難題，與此同時(shí)，由于納米材料研發(fā)的芯片具有更低的生產(chǎn)成本，因此，納米計(jì)算機(jī)的發(fā)展前景更加樂(lè)觀。作為21世紀(jì)科學(xué)技術(shù)發(fā)展的一個(gè)重要方向，相信隨著科研人員的不斷探索與發(fā)現(xiàn)，納米計(jì)算機(jī)技術(shù)一定可以隨著時(shí)間的推移走進(jìn)我們老百姓的生活中，幫助我們解決日常生活中的一系列問(wèn)題。

3總結(jié)

時(shí)代在不斷發(fā)展，科學(xué)技術(shù)水平也在不斷提升。社會(huì)的進(jìn)步和發(fā)展對(duì)于現(xiàn)代計(jì)算機(jī)技術(shù)的發(fā)展要求越來(lái)越高，計(jì)算機(jī)作為人們工作生活中一個(gè)必不可少的輔助用品，必將走在不斷發(fā)展的路上，微型、智能、多功能發(fā)展，生物計(jì)算機(jī)、量子計(jì)算機(jī)、光子計(jì)算機(jī)以及納米計(jì)算機(jī)等一系列新型計(jì)算機(jī)，作為現(xiàn)代計(jì)算機(jī)技術(shù)的一個(gè)發(fā)展方向與趨勢(shì)一定可以破除各種技術(shù)阻礙，通過(guò)科研人員堅(jiān)持不懈的努力成為老百姓生活中的一部分，為美好生活的構(gòu)建增添色彩。

【參考文獻(xiàn)】

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［3］雷宏澤.淺談?dòng)?jì)算機(jī)網(wǎng)絡(luò)的發(fā)展歷程與發(fā)展方向[J].青年文學(xué)家,2013(29).

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第5篇：大規(guī)模集成電路范文

2、甲醇的主要應(yīng)用領(lǐng)域是生產(chǎn)甲醛，甲醛可用來(lái)生產(chǎn)膠粘劑，主要用于木材加工業(yè)，其次是用作模塑料、涂料、紡織物及紙張等的處理劑。

3、甲醇另一主要用途是生產(chǎn)醋酸。醋酸消費(fèi)約占全球甲醇需求的7%，可生產(chǎn)醋酸乙烯、醋酸纖維和醋酸酯等，其需求與涂料、粘合劑和紡織等方面的需求密切相關(guān)。

4、甲醇可用于制造甲酸甲酯，甲酸甲酯可用于生產(chǎn)甲酸、甲酰胺和其他精細(xì)化工產(chǎn)品，還可用作殺蟲(chóng)劑、殺菌劑、熏蒸劑、煙草處理劑和汽油添加劑。

5、甲醇也可制造甲胺，甲胺是一種重要的脂肪胺，以液氮和甲醇為原料，可通過(guò)加工分立為一甲胺、二甲胺、三甲胺，是基本的化工原料之一。

6、可用于制造生長(zhǎng)促進(jìn)劑?？梢允棺魑锎罅吭霎a(chǎn)，保持枝葉鮮嫩、茁壯茂盛、在夏天也不會(huì)枯萎，可大量減少灌溉用水，有利于旱地作物的生長(zhǎng)。

7、甲醇用作清洗去油劑，MOS級(jí)主要用于分立器件，中、大規(guī)模集成電路，BV-Ⅲ級(jí)主要用于超大規(guī)模集成電路工藝技術(shù)。

8、用作分析試劑，如作溶劑、甲基化試劑、色譜分析試劑。還用于有機(jī)合成。

第6篇：大規(guī)模集成電路范文

手機(jī)cpu為整臺(tái)手機(jī)的控制中樞系統(tǒng)，也是邏輯部分的控制中心。微處理器通過(guò)運(yùn)行存儲(chǔ)器內(nèi)的軟件及調(diào)用存儲(chǔ)器內(nèi)的數(shù)據(jù)庫(kù)，達(dá)到控制目的。從技術(shù)角度看，一般在整個(gè)移動(dòng)處理器中，CPU的處理任務(wù)最多僅占15%～20%，更多的任務(wù)是由GPU、DSP、GPS、調(diào)制解調(diào)器等其他組件完成的。

CPU出現(xiàn)于大規(guī)模集成電路時(shí)代，處理器架構(gòu)設(shè)計(jì)的迭代更新以及集成電路工藝的不斷提升促使其不斷發(fā)展完善。從最初專用于數(shù)學(xué)計(jì)算到廣泛應(yīng)用于通用計(jì)算，從4位到8位、16位、32位處理器，最后到64位處理器。

（來(lái)源：文章屋網(wǎng) ）

第7篇：大規(guī)模集成電路范文

【關(guān)鍵詞】電子信息；技術(shù)發(fā)展；問(wèn)題；趨勢(shì)

一、電子信息技術(shù)

電子數(shù)據(jù)交換，簡(jiǎn)稱EDI。EDI是現(xiàn)在電子信息技術(shù)的產(chǎn)物，是一種無(wú)需人工介入的電子技術(shù)，這種技術(shù)可以實(shí)現(xiàn)直接讓計(jì)算機(jī)通過(guò)網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)，進(jìn)行信息、數(shù)據(jù)的交換，這種新型高水平電子信息應(yīng)用方式是電子信息技術(shù)發(fā)展的必然，在未來(lái)的發(fā)展中，會(huì)逐漸應(yīng)用到各個(gè)領(lǐng)域當(dāng)中。

二、我國(guó)電子信息技術(shù)發(fā)展存在的問(wèn)題

在我國(guó)，電子信息技術(shù)發(fā)展面臨的主要問(wèn)題有：

第一，我國(guó)在電子信息技術(shù)方面的人才的確不少，而且還在不斷的增加中，從事的種類也比較齊全。但是這些人大部分都是單一型的人才，所從事的領(lǐng)域也僅僅只是自己擅長(zhǎng)的一部分。復(fù)合型的人才在我國(guó)并不多見(jiàn)，這就嚴(yán)重的制約了我國(guó)電子信息技術(shù)的發(fā)展。除此之外，在這些技術(shù)人才中，高端電子信息技術(shù)方面的人才的嚴(yán)重欠缺，同樣制約我國(guó)電子技術(shù)的發(fā)展。

第二，發(fā)展環(huán)境資源的緊缺也是我國(guó)電子信息技術(shù)發(fā)展中面臨的一個(gè)重要問(wèn)題。這方面主要體現(xiàn)在電子信息產(chǎn)品的假冒偽劣、知識(shí)產(chǎn)權(quán)侵權(quán)行為、盜版產(chǎn)品的走私販賣(mài)以及企業(yè)間不良競(jìng)爭(zhēng)幾個(gè)方面。這些現(xiàn)象在我國(guó)電子信息市場(chǎng)屢見(jiàn)不鮮，在很大程度上降低了我國(guó)電子信息技術(shù)在國(guó)際市場(chǎng)的競(jìng)爭(zhēng)力，同時(shí)也極大地降低了我國(guó)電子信息技術(shù)發(fā)展的潛力。

只有為電子信息技術(shù)創(chuàng)造一個(gè)良好的發(fā)展環(huán)境，才會(huì)使電子技術(shù)人才將自己的潛力發(fā)揮出來(lái)，才能推動(dòng)我國(guó)電子信息市場(chǎng)的進(jìn)步，進(jìn)一步提高我國(guó)的競(jìng)爭(zhēng)能力和整體經(jīng)濟(jì)水平。

第三，雖然我國(guó)的電子信息技術(shù)總的發(fā)展趨勢(shì)很理想，但是由于電子信息產(chǎn)業(yè)機(jī)構(gòu)的不合理，嚴(yán)重的制約了我國(guó)電子信息技術(shù)的發(fā)展升級(jí)，如果想使電子信息技術(shù)的產(chǎn)品能夠與其他國(guó)家的產(chǎn)品相媲美，那么就要打破傳統(tǒng)的產(chǎn)業(yè)機(jī)構(gòu)，根據(jù)我國(guó)電子信息技術(shù)的現(xiàn)狀，重新構(gòu)建科學(xué)合理的電子信息技術(shù)產(chǎn)業(yè)機(jī)構(gòu)。

三、我國(guó)電子信息技術(shù)發(fā)展的未來(lái)走向

隨著我國(guó)電子信息技術(shù)的不斷發(fā)展進(jìn)步以及電子信息技術(shù)產(chǎn)業(yè)結(jié)構(gòu)的不斷優(yōu)化和升級(jí)，使得我國(guó)電子信息技術(shù)發(fā)展的空間還很大，我們必須要看清它的發(fā)展趨勢(shì)，從而進(jìn)行正確的分析，逐步完善我國(guó)的電子信息技術(shù)。

3.1 梯次化、全球化發(fā)展趨勢(shì)

隨著電子信息技術(shù)的不斷發(fā)展，已經(jīng)在越來(lái)越多的領(lǐng)域得到了有效的應(yīng)用，使得其采購(gòu)、生產(chǎn)、加工、銷售等都具有了全球化的特征，這樣，電子信息技術(shù)全球化的趨勢(shì)在未來(lái)的時(shí)間里就會(huì)越來(lái)越明顯。與此同時(shí)，我國(guó)電子信息技術(shù)的發(fā)展趨勢(shì)越來(lái)越梯次化，導(dǎo)致這種趨勢(shì)出現(xiàn)的原因主要是因?yàn)樵谖鞣降囊恍┌l(fā)達(dá)國(guó)家里，有很大一部分企業(yè)將生產(chǎn)工作集中在一些高科技產(chǎn)品的研究和開(kāi)發(fā)，這樣一些逐漸被淘汰的技術(shù)就會(huì)逐步流入其他電子信息技術(shù)相對(duì)來(lái)說(shuō)水平較差的國(guó)家，由于我國(guó)電子信息技術(shù)還處于發(fā)展階段，所以因此逐漸向梯次化的趨勢(shì)發(fā)展。

3.2 集成化及移動(dòng)化

隨著半導(dǎo)體向SoC（片上系統(tǒng)，即在單個(gè)芯片上集成一個(gè)完整系統(tǒng)）方向的發(fā)展及移動(dòng)多媒體技術(shù)的快速發(fā)展，電子產(chǎn)品有向著集成化和移動(dòng)化發(fā)展的趨勢(shì)。在所有關(guān)鍵技術(shù)中，電子信息硬件產(chǎn)品的“核心”就是集成電路制造技術(shù)，這種集成電路經(jīng)過(guò)了大規(guī)模集成電路、超大規(guī)模集成電路、特大規(guī)模集成電路幾個(gè)階段。電子信息技術(shù)有很多都需要集成電路，從CPU到IC卡，無(wú)一不是集成電路的應(yīng)用范圍。

移動(dòng)化體現(xiàn)為各種電子產(chǎn)品的小型化、便攜化，特別是三網(wǎng)的融合帶動(dòng)了大量豐富的應(yīng)用，也激發(fā)了多種功能的移動(dòng)產(chǎn)品的快速發(fā)展，如超移動(dòng)個(gè)人計(jì)算機(jī)（UMPC）、智能手機(jī)、MP3、便攜式媒體播放器（PMP）等等。

3.3 屏顯技術(shù)及平板化

在這兩年，各種超大屏幕或者全屏幕的手機(jī)和平板電腦的大量出現(xiàn)，移動(dòng)通信技術(shù)的快速發(fā)展，都為廣大群眾提供了更為豐富、精彩的體驗(yàn)，這也預(yù)示了我國(guó)電子信息顯示技術(shù)存在向大屏幕和平板方向發(fā)展的趨勢(shì)，因此，大屏幕電子產(chǎn)品和平板產(chǎn)品在電子信息領(lǐng)域中的地位也日益重要。

3.4 多媒體化及智能化

隨著我國(guó)電子信息技術(shù)發(fā)展，計(jì)算機(jī)技術(shù)將向多媒體、智能化方向發(fā)展。網(wǎng)絡(luò)計(jì)算、移動(dòng)計(jì)算、并行計(jì)算等計(jì)算機(jī)技術(shù)已經(jīng)開(kāi)始向多媒體、智能化方向發(fā)展。這也標(biāo)志了我國(guó)電子信息技術(shù)也在向這個(gè)方向發(fā)展。多媒體的普遍應(yīng)用為電子信息技術(shù)的發(fā)展帶來(lái)了很大的幫助。

3.5 規(guī)模化及個(gè)性化

我國(guó)電子信息技術(shù)產(chǎn)品存在一定的規(guī)模性，換句話說(shuō)，如果我國(guó)電子信息技術(shù)產(chǎn)業(yè)的發(fā)展不能具備這樣特定的規(guī)模的話，會(huì)很難繼續(xù)存在和發(fā)展下去的，又何談與其他國(guó)家競(jìng)爭(zhēng)呢？

目前，我國(guó)電子信息技術(shù)的生產(chǎn)規(guī)模越來(lái)越大，已經(jīng)具備了一定的規(guī)模，其中一些跨國(guó)公司的電子信息技術(shù)產(chǎn)品，無(wú)論是從質(zhì)量還是產(chǎn)量上來(lái)說(shuō)，都有逐漸上升的趨勢(shì)，并且都產(chǎn)生了很好的經(jīng)濟(jì)效益。

四、結(jié)語(yǔ)

我們必須對(duì)電子信息技術(shù)的發(fā)展進(jìn)行正確的分析，掌握其發(fā)展趨勢(shì)，對(duì)在發(fā)展中存在的問(wèn)題進(jìn)行合理化的分析，找到具體的解決方案。使我國(guó)電子信息技術(shù)的發(fā)展在正確的軌道上運(yùn)行，而電子信息技術(shù)的良好發(fā)展同時(shí)也會(huì)對(duì)我國(guó)的經(jīng)濟(jì)發(fā)揮很大的推動(dòng)作用。

參考文獻(xiàn)：

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第8篇：大規(guī)模集成電路范文

(四)房產(chǎn)樓市

【上海房貸利率全線上浮，4月1日起最低95折】

今年春節(jié)過(guò)后，全國(guó)各地銀行房貸利率“漲聲一片”，首套房貸利率已經(jīng)連升14個(gè)月。目前，上海市面上首套房貸利率最低是9折，不過(guò)，從4月1日起，各大行將調(diào)整房貸利率，最低95折。從多家銀行的房貸部門(mén)獲悉，時(shí)間點(diǎn)以網(wǎng)簽和貸款簽約時(shí)間為主，放貸速度一般在3周左右。

【大連宣布3月22日起執(zhí)行房產(chǎn)限購(gòu)政策】

大連宣布3月22日起執(zhí)行房產(chǎn)限購(gòu)政策。

(五)產(chǎn)經(jīng)觀察

1.熱點(diǎn)行業(yè)類

【財(cái)政部：做好2018-2020年農(nóng)機(jī)新產(chǎn)品購(gòu)置補(bǔ)貼試點(diǎn)工作】

財(cái)政部：做好2018-2020年農(nóng)機(jī)新產(chǎn)品購(gòu)置補(bǔ)貼試點(diǎn)工作。試點(diǎn)省份省級(jí)農(nóng)機(jī)化主管部門(mén)負(fù)責(zé)補(bǔ)貼額確定工作，原則上依據(jù)試點(diǎn)產(chǎn)品市場(chǎng)銷售均價(jià)測(cè)算，測(cè)算比例不超過(guò)30%。

【物聯(lián)網(wǎng)重點(diǎn)專項(xiàng)2018年度指南編制啟動(dòng)會(huì)召開(kāi)】

據(jù)科技部消息，根據(jù)國(guó)家重點(diǎn)研發(fā)計(jì)劃總體工作安排，近日，科技部高新司在北京召開(kāi)物聯(lián)網(wǎng)與智慧城市關(guān)鍵技術(shù)及示范重點(diǎn)專項(xiàng)2018年度指南編制啟動(dòng)會(huì)。會(huì)議要求指南編制專家組按照工作要求和時(shí)間節(jié)點(diǎn)安排抓緊開(kāi)展2018年指南編制工作。

第9篇：大規(guī)模集成電路范文

引線框架是集成電路產(chǎn)品的重要組成部分，它的主要功能是為芯片提供機(jī)械支撐，并作為導(dǎo)電 介質(zhì)連接集成電路外部電路，傳送電信號(hào)， 以及與封裝材料一起向外散發(fā)芯片工作時(shí)產(chǎn)生的熱量。隨著大規(guī)模集成電路和超大規(guī)模集成電路的發(fā)展 ，集成電路正朝著高集成化、多功能化，線路的高密度化，封裝的多樣化和高性能化發(fā)展，其對(duì)引線框架材料要求也將越來(lái)越高。

2 引線框架材料的要求

集成電路的許多可靠性都是由封裝性能決定的，引線框架為芯片提供電通路、散熱通路 、機(jī)械支撐等功能，I c 封裝要示其必須具備高強(qiáng)度、高導(dǎo)電、導(dǎo)熱性好， 以及良好的可焊性 ， 耐蝕性、塑封性、抗氧化性等

3 引線框架材料經(jīng)沖壓法大批量生產(chǎn)成個(gè)系列的引線框架，因是大批量生產(chǎn)，在首檢、中檢、終檢就尤其重要。

4 下面就IC引線框架的尺寸檢驗(yàn)進(jìn)行介紹

4.1 FRAME THICKNESS

（1）檢驗(yàn)設(shè)備：MICROMETER

（2）檢驗(yàn)方法：1）在邊界上測(cè)量厚度時(shí)，因?yàn)樵赟TAMPING時(shí)發(fā)生的垂直BURR而造成測(cè)量值比實(shí)際厚度值增大，因此要測(cè)量在L/F RAIL部的中心，沒(méi)有PILOT HOLE的位置；2）完全擰緊MICROMETER的回轉(zhuǎn)手柄后把數(shù)字盤(pán)歸為“0”；3）打開(kāi)MICROMETER的回轉(zhuǎn)手柄后把L/F的RAIL部和MICROMETER的測(cè)定部位對(duì)齊后從新擰緊回轉(zhuǎn)手柄；4）連續(xù)響動(dòng)3聲，此時(shí)在MICROMETER數(shù)字盤(pán)上出現(xiàn)的數(shù)字就是FRAME THICKNESS。

4.2 FRAME WIDTH（條帶的寬度）

（1）檢驗(yàn)設(shè)備；COMPARATOR（20×），F(xiàn)IXTURE

（2）檢驗(yàn)方法：1）將產(chǎn)品垂直放在測(cè)量夾具（檢查夾具正確固定在COMPARATOR上）上固定好；

2）移動(dòng)X方向的手柄到L/F一端的位置，移動(dòng)Y方向的手柄用米子線壓住L/F的一邊，顯示屏Y數(shù)據(jù)歸“0”；3）再移動(dòng)Y方向的手柄到另一邊，用米子線壓住L/F的另一邊，此時(shí)顯示屏中Y的數(shù)據(jù)即位FRAME WIDTH的值；4）用同樣的方法測(cè)量L/F的另一端的FRAME WIDTH。

4.3 CUTTING OFF LENGTH（條帶的切斷長(zhǎng)度）

（1）檢驗(yàn)設(shè)備；COMPARATOR（2×），F(xiàn)IXTURE

（2）檢驗(yàn)方法：1）將產(chǎn)品垂直放在測(cè)量夾具（檢查夾具正確固定在COMPARATOR上）上固定好；2）移動(dòng)X方向的手柄到L/F一端的位置，移動(dòng)X方向的手柄用米子線壓住L/F的一邊，顯示屏X數(shù)據(jù)歸“0”；3）再移動(dòng)X方向的手柄到L/F的另一端，用米子線壓住L/F的另一邊，此時(shí)顯示屏中X的數(shù)據(jù)即位CUTTING OFF LENGTH的值；4）用同樣的方法測(cè)量L/F的另一邊的CUTTING OFF LENGTH。

4.4 PROGRESSIN （總步距）

（1）檢驗(yàn)設(shè)備：COMPARATOR （20× ），F(xiàn)IXTURE

（2）檢驗(yàn)方法：1）將產(chǎn)品垂直放在測(cè)量夾具（檢查夾具正確固定在COMPARATOR上）上固定好；2）根據(jù)圖紙標(biāo)識(shí)的位置通過(guò)測(cè)量找到第一個(gè)PILOT HOLE的一邊，然后將顯示器上X軸歸“0”；

3）移動(dòng)COMPARATOR的X軸與圖紙標(biāo)識(shí)的位置上最后一個(gè)PILOT HOLE對(duì)應(yīng)的一邊對(duì)齊，這時(shí)數(shù)字盤(pán)上出現(xiàn)的值就是PROGRESSION的值。

注：根據(jù)圖紙要求測(cè)量的部位進(jìn)行測(cè)量，可以是圓、方孔。

4.5 UNIT PITCH（步距）

（1）檢驗(yàn)設(shè)備：COMPARATOR （20× ），F(xiàn)IXTURE

（2）檢驗(yàn)方法：1）將產(chǎn)品垂直放在測(cè)量夾具（檢查夾具正確固定在COMPARATOR上）上固定好；

2）根據(jù)圖紙標(biāo)識(shí)的位置通過(guò)測(cè)量找到第一個(gè)PILOT HOLE的一邊，然后將顯示器上X軸歸“0”；3）移動(dòng)COMPARATOR的X軸與圖紙標(biāo)識(shí)的位置上相另鄰位置的PILOT HOLE對(duì)應(yīng)的一邊對(duì)齊，這時(shí)數(shù)字盤(pán)上出現(xiàn)的值就是UNIT PITCH的值。

注：根據(jù)圖紙要求測(cè)量的部位進(jìn)行測(cè)量，可以是圓、方孔，測(cè)量時(shí)選擇第一個(gè)步距和最后一個(gè)步距分別進(jìn)行測(cè)量并記錄。

4.6 SYMMETRY

（1）檢驗(yàn)設(shè)備：COMPARATOR（20× ），F(xiàn)IXTURE

（2）檢驗(yàn)順序：1）將產(chǎn)品垂直放在測(cè)量夾具（檢查夾具正確固定在COMPARATOR上）上固定好；

2）按產(chǎn)品圖紙所示位置，找到需要測(cè)量的PILOT HOLE后先求的其Y方向的PILOT HOLE中心，并將顯示器上Y軸歸“0”；3）垂直移動(dòng)COMPARATOR的Y軸，與RAIL的邊緣水平線對(duì)齊，這時(shí)顯示器Y軸上所顯示值就是SYMMETRY的值。

4.7 D/S DEPTH

4.7.1 一般的D/S DEPTH的測(cè)量方法（兩點(diǎn)法）

（1）檢驗(yàn)設(shè)備：T/M（200× /25×），F(xiàn)IXTURE

（2）檢驗(yàn)順序：1）根據(jù)產(chǎn)品選擇合適的FIXTURE，將其輕輕地放到T/M的工作臺(tái)面上；2）將產(chǎn)品放在FIXTURE上用軟吸條固定好；3）25×下在TIE BAR上10MIL的平坦區(qū)域選一點(diǎn)A，轉(zhuǎn)動(dòng)物鏡到200×調(diào)焦歸“0”；再將物鏡轉(zhuǎn)到25×下在PAD或TIE BAR上10MIL的平坦區(qū)域選一點(diǎn)B，轉(zhuǎn)動(dòng)物鏡到200×調(diào)焦得出的Z值即為D/S DEPTH值（選點(diǎn)時(shí)如果有TOOL MAR的避開(kāi)TOOL MARK在平坦區(qū)域選點(diǎn)測(cè)量）；4）一個(gè)UNIT中連接PAD的所有TIE BAR上都要測(cè)量，每個(gè)步距出來(lái)的UNIT都要測(cè)；記錄一個(gè)MAX和MIN值。

注：對(duì)于初學(xué)者要在25×選點(diǎn)，200×調(diào)焦，熟練后可直接在200×下選點(diǎn)、調(diào)焦。

如圖所示：

A

B A點(diǎn)到B點(diǎn)的高度差

5 總結(jié)

通過(guò)上述的尺寸檢驗(yàn)，再加上引線框架的外觀檢查及功能檢查，如三項(xiàng)都合格，那么就算合格的引線框架產(chǎn)品了。