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Journal Of Electronic Imaging

電子影像雜志
國際簡稱:J ELECTRON IMAGING

Journal Of Electronic Imaging

SCIE

按雜志級別劃分: 中科院1區(qū) 中科院2區(qū) 中科院3區(qū) 中科院4區(qū)

  • 4區(qū) 中科院分區(qū)
  • Q4 JCR分區(qū)
  • 316 年發(fā)文量
  • 98.10% 研究類文章占比
  • 3.76% Gold OA文章占比
ISSN:1017-9909
創(chuàng)刊時間:1992
是否預警:否
E-ISSN:1560-229X
出版地區(qū):UNITED STATES
是否OA:未開放
出版語言:English
出版周期:Quarterly
影響因子:1
出版商:SPIE
審稿周期: 約4.0個月
CiteScore:1.7
H-index:60
出版撤稿文章占比:0.0078...
開源占比:0.0325
文章自引率:0.2727...

Journal Of Electronic Imaging雜志簡介

Journal Of Electronic Imaging是由SPIE出版商主辦的計算機科學領域的專業(yè)學術期刊,自1992年創(chuàng)刊以來,一直以高質(zhì)量的內(nèi)容贏得業(yè)界的尊重。該期刊擁有正式的刊號(ISSN:1017-9909,E-ISSN:1560-229X),出版周期Quarterly,其出版地區(qū)設在UNITED STATES。該期刊的核心使命旨在推動計算機科學專業(yè)及ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC學科界的教育研究與實踐經(jīng)驗的交流,發(fā)表同行有創(chuàng)見的學術論文,提倡學術爭鳴,激發(fā)學術創(chuàng)新,開展國際間學術交流,為計算機科學領域的發(fā)展注入活力。

該期刊文章自引率0.2727...,開源內(nèi)容占比0.0325,出版撤稿占比0.0078...,OA被引用占比0.0554...,讀者群體主要包括計算機科學的專業(yè)人員,研究生、本科生以及計算機科學領域愛好者,這些讀者群體來自全球各地,具有廣泛的學術背景和興趣。Journal Of Electronic Imaging已被國際權威學術數(shù)據(jù)庫“ SCIE(Science Citation Index Expanded) ”收錄,方便全球范圍內(nèi)的學者和研究人員檢索和引用,有助于推動ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC領域的研究進展和創(chuàng)新發(fā)展。

CiteScore(2024年最新版)

  • CiteScore:1.7
  • SJR:0.264
  • SNIP:0.357
學科類別 分區(qū) 排名 百分位
大類:Engineering 小類:Electrical and Electronic Engineering Q3 540 / 797

32%

大類:Engineering 小類:Atomic and Molecular Physics, and Optics Q3 167 / 224

25%

大類:Engineering 小類:Computer Science Applications Q3 610 / 817

25%

CiteScore: 這一創(chuàng)新指標力求提供更為全面且精確的期刊評估,打破了過去僅依賴單一指標如影響因子的局限。它通過綜合廣泛的引用數(shù)據(jù),跨越多個學科領域,從而確保了更高的透明度和開放性。作為Scopus中一系列期刊指標的重要組成部分,包括SNIP(源文檔標準化影響)、SJR(SCImago雜志排名)、引用文檔計數(shù)以及引用百分比。Scopus整合以上指標,幫助研究者深入了解超過22,220種論著的引用情況。您可在Scopus Joumal Metrics website了解各個指標的詳細信息。

CiteScore分區(qū)值與影響因子值數(shù)據(jù)對比

Journal Of Electronic Imaging中科院分區(qū)表

中科院分區(qū) 2023年12月升級版
大類學科 分區(qū) 小類學科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
計算機科學 4區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學與照相技術 OPTICS 光學 4區(qū) 4區(qū) 4區(qū)
中科院分區(qū) 2022年12月升級版
大類學科 分區(qū) 小類學科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
計算機科學 4區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學與照相技術 OPTICS 光學 4區(qū) 4區(qū) 4區(qū)
中科院分區(qū) 2021年12月舊的升級版
大類學科 分區(qū) 小類學科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
計算機科學 4區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學與照相技術 OPTICS 光學 4區(qū) 4區(qū) 4區(qū)
中科院分區(qū) 2021年12月基礎版
大類學科 分區(qū) 小類學科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術 4區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學與照相技術 OPTICS 光學 4區(qū) 4區(qū) 4區(qū)
中科院分區(qū) 2021年12月升級版
大類學科 分區(qū) 小類學科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
計算機科學 4區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學與照相技術 OPTICS 光學 4區(qū) 4區(qū) 4區(qū)
中科院分區(qū) 2020年12月舊的升級版
大類學科 分區(qū) 小類學科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
計算機科學 4區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學與照相技術 OPTICS 光學 4區(qū) 4區(qū) 4區(qū)
中科院分區(qū)表歷年分布趨勢圖

WOS期刊JCR分區(qū)(2023-2024年最新版)

按JIF指標學科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q4 285 / 352

19.2%

學科:IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY SCIE Q4 31 / 36

15.3%

學科:OPTICS SCIE Q4 99 / 119

17.2%

按JCI指標學科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q4 289 / 354

18.5%

學科:IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY SCIE Q4 31 / 36

15.28%

學科:OPTICS SCIE Q4 104 / 120

13.75%

JCR(Journal Citation Reports)分區(qū),也被稱為JCR期刊分區(qū),是由湯森路透公司(現(xiàn)在屬于科睿唯安公司)制定的一種國際通用和公認的期刊分區(qū)標準。JCR分區(qū)基于SCI數(shù)據(jù)庫,按照期刊的影響因子進行排序,按照類似等分的方式將期刊劃分為四個區(qū):Q1、Q2、Q3和Q4。需要注意的是,JCR分區(qū)的標準與中科院JCR期刊分區(qū)(又稱分區(qū)表、分區(qū)數(shù)據(jù))存在不同之處。例如,兩者的分區(qū)數(shù)量不同,JCR分為四個區(qū),而中科院分區(qū)則分為176個學科,每個學科又按照影響因子高低分為四個區(qū)。此外,兩者的影響因子取值范圍也存在差異。

歷年發(fā)文數(shù)據(jù)

年份 年發(fā)文量
2014 168
2015 190
2016 186
2017 224
2018 302
2019 227
2020 147
2021 203
2022 358
2023 316

期刊互引關系

被他刊引用情況
期刊名稱 引用次數(shù)
IEEE ACCESS 167
J ELECTRON IMAGING 163
MULTIMED TOOLS APPL 118
SENSORS-BASEL 67
SIGNAL PROCESS-IMAGE 44
APPL SCI-BASEL 29
IEEE T IMAGE PROCESS 29
IET IMAGE PROCESS 29
OPT EXPRESS 27
NEUROCOMPUTING 26
引用他刊情況
期刊名稱 引用次數(shù)
IEEE T IMAGE PROCESS 573
IEEE T PATTERN ANAL 435
J ELECTRON IMAGING 163
PATTERN RECOGN 159
INT J COMPUT VISION 153
NEUROCOMPUTING 118
IEEE T CIRC SYST VID 105
ACM T GRAPHIC 74
MULTIMED TOOLS APPL 74
PATTERN RECOGN LETT 73
若用戶需要出版服務,請聯(lián)系出版商:I S & T - SOC IMAGING SCIENCE TECHNOLOGY, 7003 KILWORTH LANE, SPRINGFIELD, USA, VA, 22151。