您現(xiàn)在的位置：公務(wù)員期刊網(wǎng) SCI 期刊 Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement(非官網(wǎng))
Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement

儀器儀表和測量的IEEE Transactions
國際簡稱：IEEE T INSTRUM MEAS

Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement

SCIE

按雜志級別劃分： 中科院1區(qū) 中科院2區(qū) 中科院3區(qū) 中科院4區(qū)

  • 2區(qū) 中科院分區(qū)
  • Q1 JCR分區(qū)
  • 2247 年發(fā)文量
  • 99.47% 研究類文章占比
  • 6.42% Gold OA文章占比
ISSN：0018-9456
創(chuàng)刊時間：1952
是否預(yù)警：否
E-ISSN：1557-9662
出版地區(qū)：UNITED STATES
是否OA：未開放
出版語言：English
出版周期：Bimonthly
影響因子：5.6
出版商：Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
審稿周期： 約6.8個月
CiteScore：9
H-index：100
出版國人文章占比：0.31
開源占比：0.0774
文章自引率：0.2321...

Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement雜志簡介

Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement是由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版商主辦的工程技術(shù)領(lǐng)域的專業(yè)學(xué)術(shù)期刊，自1952年創(chuàng)刊以來，一直以高質(zhì)量的內(nèi)容贏得業(yè)界的尊重。該期刊擁有正式的刊號（ISSN：0018-9456，E-ISSN：1557-9662），出版周期Bimonthly，其出版地區(qū)設(shè)在UNITED STATES。該期刊的核心使命旨在推動工程技術(shù)專業(yè)及ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC學(xué)科界的教育研究與實踐經(jīng)驗的交流，發(fā)表同行有創(chuàng)見的學(xué)術(shù)論文，提倡學(xué)術(shù)爭鳴，激發(fā)學(xué)術(shù)創(chuàng)新，開展國際間學(xué)術(shù)交流，為工程技術(shù)領(lǐng)域的發(fā)展注入活力。

該期刊文章自引率0.2321...，開源內(nèi)容占比0.0774，出版撤稿占比0，OA被引用占比0，讀者群體主要包括工程技術(shù)的專業(yè)人員，研究生、本科生以及工程技術(shù)領(lǐng)域愛好者，這些讀者群體來自全球各地，具有廣泛的學(xué)術(shù)背景和興趣。Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement已被國際權(quán)威學(xué)術(shù)數(shù)據(jù)庫“ SCIE（Science Citation Index Expanded） ”收錄，方便全球范圍內(nèi)的學(xué)者和研究人員檢索和引用，有助于推動ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC領(lǐng)域的研究進(jìn)展和創(chuàng)新發(fā)展。

CiteScore（2024年最新版）

  • CiteScore：9
  • SJR：1.536
  • SNIP：1.741
學(xué)科類別 分區(qū) 排名 百分位
大類：Physics and Astronomy 小類：Instrumentation Q1 13 / 141

91%
大類：Physics and Astronomy 小類：Electrical and Electronic Engineering Q1 114 / 797

85%

CiteScore: 這一創(chuàng)新指標(biāo)力求提供更為全面且精確的期刊評估，打破了過去僅依賴單一指標(biāo)如影響因子的局限。它通過綜合廣泛的引用數(shù)據(jù)，跨越多個學(xué)科領(lǐng)域，從而確保了更高的透明度和開放性。作為Scopus中一系列期刊指標(biāo)的重要組成部分，包括SNIP（源文檔標(biāo)準(zhǔn)化影響）、SJR（SCImago雜志排名）、引用文檔計數(shù)以及引用百分比。Scopus整合以上指標(biāo)，幫助研究者深入了解超過22,220種論著的引用情況。您可在Scopus Joumal Metrics website了解各個指標(biāo)的詳細(xì)信息。

CiteScore分區(qū)值與影響因子值數(shù)據(jù)對比

Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement中科院分區(qū)表

中科院分區(qū) 2023年12月升級版
大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 2區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 2區(qū) 2區(qū) 是 否
中科院分區(qū) 2022年12月升級版
大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 2區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 2區(qū) 2區(qū) 否 否
中科院分區(qū) 2021年12月舊的升級版
大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 2區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 2區(qū) 2區(qū) 否 否
中科院分區(qū) 2021年12月基礎(chǔ)版
大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 3區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 3區(qū) 2區(qū) 否 否
中科院分區(qū) 2021年12月升級版
大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 2區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 2區(qū) 2區(qū) 否 否
中科院分區(qū) 2020年12月舊的升級版
大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 2區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 2區(qū) 2區(qū) 否 否
中科院分區(qū)表歷年分布趨勢圖

WOS期刊JCR分區(qū)（2023-2024年最新版）

按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q1 53 / 352

85.1%
學(xué)科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION SCIE Q1 9 / 76

88.8%
按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q1 52 / 354

85.45%
學(xué)科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION SCIE Q1 7 / 76

91.45%

JCR（Journal Citation Reports）分區(qū)，也被稱為JCR期刊分區(qū)，是由湯森路透公司（現(xiàn)在屬于科睿唯安公司）制定的一種國際通用和公認(rèn)的期刊分區(qū)標(biāo)準(zhǔn)。JCR分區(qū)基于SCI數(shù)據(jù)庫，按照期刊的影響因子進(jìn)行排序，按照類似等分的方式將期刊劃分為四個區(qū)：Q1、Q2、Q3和Q4。需要注意的是，JCR分區(qū)的標(biāo)準(zhǔn)與中科院JCR期刊分區(qū)（又稱分區(qū)表、分區(qū)數(shù)據(jù)）存在不同之處。例如，兩者的分區(qū)數(shù)量不同，JCR分為四個區(qū)，而中科院分區(qū)則分為176個學(xué)科，每個學(xué)科又按照影響因子高低分為四個區(qū)。此外，兩者的影響因子取值范圍也存在差異。

歷年發(fā)文數(shù)據(jù)

年份 年發(fā)文量
2014 328
2015 380
2016 285
2017 361
2018 282
2019 514
2020 948
2021 1714
2022 1781
2023 2247

期刊互引關(guān)系

被他刊引用情況
期刊名稱 引用次數(shù)
IEEE T INSTRUM MEAS 2095
IEEE ACCESS 940
SENSORS-BASEL 761
IEEE SENS J 555
MEASUREMENT 390
ENERGIES 245
APPL SCI-BASEL 194
ELECTRONICS-SWITZ 169
IEEE T IND ELECTRON 149
MEAS SCI TECHNOL 149
引用他刊情況
期刊名稱 引用次數(shù)
IEEE T INSTRUM MEAS 2095
IEEE SENS J 265
IEEE T IND ELECTRON 205
MEAS SCI TECHNOL 203
SENSORS-BASEL 177
IEEE T MICROW THEORY 174
METROLOGIA 167
IEEE T POWER DELIVER 162
MEASUREMENT 151
MECH SYST SIGNAL PR 132
若用戶需要出版服務(wù)，請聯(lián)系出版商：IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC, 445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141。